芯芯片Char与老化GB测试方案及计算表

芯片产品/工艺/测试工程师的「Char 分布 + 老化 GB」方案与计算工具。触发场景：定老化 GB、定 Test Limit、算自然 Margin、老化漂移外推、测量不确定度与可靠性余量合成、判断 CP 该不该加 GB、V/f 工作角包络能覆盖哪些参数、要一份 GB 计算表或测试方案。一次交付两件东西——单文件 HTML 测试方案（CP 正常测试 / FT 施加 GB / FT2 闭环，含参数到手段映射、老化实验规范、实现载体与定值方法、包络压缩与保留参数）与活公式 xlsx 计算表（13 个参数、含 Arrhenius 漂移外推子表、GB_left 与 GB_tighten 两个语义、两种 Test Limit 落点、FT 测试点），并自带排版自检与独立实算校验脚本。