芯芯片GDPW与良率评估
· 累计使用人次 20 · 24h增量 0
基本信息
| 名称（name） | 芯片GDPW与良率评估 |
|---|---|
| 简介（displayDescription） | 芯片产品/工艺工程师的 GDPW（每片晶圆裸片数）与 Poisson 良率评估工具，内置交互式 Wafer Map 与 shot 边界可视化，支持理论 vs Foundry 实绩对比。 |
| 分类（categories） | 数据分析效率工具 |
| 累计使用人次 | 20 |
| 最后更新（created_at） | 2026-09-09 |
| 版本（version） | 1.0.0 |
每日记录
本服务按天记录的使用人次。共 21 天。
| 日期 | 累计使用人次 | 24h增量 |
|---|---|---|
| 2026-10-19 | 20 | 0 |
| 2026-10-18 | 20 | 0 |
| 2026-10-17 | 20 | 0 |
| 2026-10-16 | 20 | +19 |
| 2026-10-09 | 1 | 0 |
| 2026-10-08 | 1 | 0 |
| 2026-10-07 | 1 | 0 |
| 2026-10-06 | 1 | 0 |
| 2026-10-05 | 1 | 0 |
| 2026-10-04 | 1 | 0 |
| 2026-10-03 | 1 | 0 |
| 2026-10-02 | 1 | 0 |
| 2026-10-01 | 1 | 0 |
| 2026-09-30 | 1 | 0 |
| 2026-09-29 | 1 | 0 |
| 2026-09-28 | 1 | +1 |
| 2026-09-27 | 0 | 0 |
| 2026-09-26 | 0 | 0 |
| 2026-09-25 | 0 | 0 |
| 2026-09-24 | 0 | 0 |
| 2026-09-23 | 0 | — |
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